Виды поиска
Стандартный Расширенный Профессиональный Словарь
Навигаторы
ГРНТИ УДК Тезаурус
База данных
|
|
| Формат представления найденных документов: | ||
| полный | информационный | краткий |
|
Общее количество найденных документов : 3 Показаны документы с 1 по 3 |
|||
1.  | 54
Кл.слова (ненормированные): эллипс поляризации -- отражательная эллипсометрия -- эллипсометрические параметры -- оптическая схема эллипсометра Аннотация: В учебном пособии изложены основы эллипсометрии - прецизионного оптического метода исследования физико-химических процессов на поверхности твердых веществ. Приведены необходимые сведения по теории отражения поляризованного излучения на основе макроскопического и микроскопического подходов. Держатели документа: КемГСХИ : 650056, Кемерово, ул. Марковцева, 5 Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) Свободны: ОХФ (1) |
| 2. | 631.4
Кл.слова (ненормированные): спектральная отражательная способность -- растительность -- почва -- определение степени засоренности -- дистанционные методы Аннотация: В книге обсуждаются результаты теоретических и экспериментальных исследований по распознаванию и оценке состояния почвенного и растительного покровов с использованием данных наземных, самолетных и спутниковых измерений. Держатели документа: КемГСХИ : 650056, Кемерово, ул. Марковцева, 5 Доп.точки доступа: Козодеров, Владимир Васильевич; Федченко, Петр Петрович Экземпляры всего: 2 ОХФ; 2, 2 (2) Свободны: ОХФ; 2, 2 (2) |
| 3. | 11.04.01 О-26 Рубрики: ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ТЕХНИКА. МЕДИЦИНА--Автоматика. Радиоэлектроника. Связь Перейти: http://znanium.com/go.php?id=995087 Свободных экз. нет |
