Рубрики: Естественные науки--Химия--Твердые вещества Кл.слова (ненормированные): эллипс поляризации -- отражательная эллипсометрия -- эллипсометрические параметры -- оптическая схема эллипсометра Аннотация: В учебном пособии изложены основы эллипсометрии - прецизионного оптического метода исследования физико-химических процессов на поверхности твердых веществ. Приведены необходимые сведения по теории отражения поляризованного излучения на основе макроскопического и микроскопического подходов. Держатели документа: КемГСХИ : 650056, Кемерово, ул. Марковцева, 5
Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) Свободны: ОХФ (1)